奧林巴斯超聲波探傷儀單晶探頭A133S-RM
 

接觸式探頭是一種可與被檢工件直接接觸的單晶縱波探頭。

優勢
• WC-5防磨板增加了這種探頭的耐用性、抗裂性及防磨性。
• 所有這類探頭都可用于檢測面粗糙的工業部件。
• 具有與大多數金屬匹配的近似聲阻抗。
• 可用于檢測多種材料。

應用

• 垂直聲束缺陷探測和厚度測量。
• 分層缺陷的探測和定量。
• 材料特性評價和聲速測量。
• 檢測平板、坯材、棒材、鍛件、鑄件、擠壓成形件及其它金屬與非金屬部件。
• 可在50°C（122°F）的高溫下持續使用。

奧林巴斯超聲波探傷儀單晶探頭A133S-RM

奧林巴斯超聲探頭選擇

接觸式探頭：

接觸式探頭是一個通常可生成縱波且與被測樣件直接接觸的單晶探頭。所有接觸式探頭都裝有WC-5防磨面，不僅具有超級防磨效果，可以延長探頭壽命，還可以提供適合于大多數金屬的好的聲阻抗。

接觸式探頭是一種可與被檢工件直接接觸的單晶縱波探頭。

優勢

• WC-5防磨板增加了這種探頭的耐用性、抗裂性及防磨性。

• 所有這類探頭都可用于檢測面粗糙的工業部件。

• 具有與大多數金屬匹配的近似聲阻抗。

• 可用于檢測多種材料。

應用

• 垂直聲束缺陷探測和厚度測量。

• 分層缺陷的探測和定量。

• 材料特性評價和聲速測量。

• 檢測平板、坯材、棒材、鍛件、鑄件、擠壓成形件及多種其它金屬與非金屬部件。

• 可在50°C（122°F）的高溫下持續使用。

指尖接觸式

• 大于6毫米（0.25英寸）的探頭帶有凸節，便于抓取。

• 303不銹鋼外殼。

• 薄外形的特點便于檢測難于接觸到的表面。

• 根據客戶的要求，可免費提供用于方便抓取探頭的可拆裝塑料套筒。

6毫米（0.25英寸）套筒的工件編號為CAP4；3毫米

（0.125英寸）套筒的工件編號為CAP8。

• 標準配置為直角連接器，并適用于Microdot連接器。

雙晶探頭：

雙晶探頭包含兩個縱波晶片（一個用作發送器，另一個用作接收器），兩個晶片裝于同一個外殼中，但中間有一層隔音屏障。每個晶片都稍微向另一個晶片傾斜，目的是使從工件底面反彈的信號以V形聲程傳播。雙晶探頭在檢測嚴重腐蝕的工件時一般都能提供更穩定的讀數，而且還可用于高溫環境。

雙晶探頭在同一個外殼中裝有由隔音屏障分開的兩個晶片。一個晶片發射縱波，另一個晶片作為接收器接收聲波。要了解有關用于MG2和37系列測厚儀的探頭更詳細的情況請咨詢我們。

優勢

• 改進了近表面的分辨率。

• 避免了高溫應用所需的多延遲塊。

• 在粗糙或彎曲表面上的耦合效果好。

• 減少了粗晶粒或易散射材料中的直接反向散射噪音。

• 將低頻單晶探頭的穿透性能與高頻單晶探頭的近表面分辨率性能結合在一起。

• 可與曲面工件外形相吻合，緊貼在工件的表面。

應用

• 剩余壁厚測量。

• 腐蝕/侵蝕監控。

• 焊縫覆蓋和覆層的粘膠/脫膠檢測。

• 探測鑄件和鍛件中的多孔性、夾雜物、裂紋及分層等缺陷。

• 探測螺栓或其它圓柱形部件中的裂紋。

• 等于或小于5.0 MHz的探頭可承受的最高溫度為425°C（800°F）；7.5 MHz和10 MHz的探頭可承受的最高溫度為175°C（350°F）。表面溫度在90°C（200°F）到425°C（800°F）的情況下，建議使用的占空因數為最多10秒鐘接觸，然后進行最少1分鐘的空氣冷卻（不適用于袖珍雙晶探頭）。

角度聲束探頭：

角度聲束探頭是一種與楔塊一起使用的單晶探頭，可以所選的角度將縱波或橫波

發射到工件中。角度聲束探頭可以對工件中垂直入射接觸式探頭的超聲聲程無法到達的區域進行檢測。角度聲束探頭一般用于焊縫檢測，因為如果使用標準接觸式探頭，焊冠會擋住聲波，使聲波無法到達希望檢測的焊縫區域，而且一般的缺陷對準操作會使角度聲束產生更強的反射信號。

角度聲束探頭是一種與楔塊一起使用的單晶探頭，可以向被測工件內部發射折射橫波或縱波。

優勢

• 三種材料制成的Accupath楔塊在提高了信噪比性能的同時，

還表現出好的防磨特性。

• 高溫楔塊可對熱材料進行在役檢測。

• 用戶可根據需要定制楔塊，以得到非標準的折射角度。

• 具有可更換型和整合型兩種結構設計。

• 具有外形吻合性能。

• 可提供在鋁制材料中獲得標準折射角度的楔塊及整合組件設

計（參見第15頁）。

應用

• 缺陷探測與定量。

• 要了解衍射時差探頭，請參閱第35頁。

• 檢測管道、管件、鍛件、鑄件，機加工部件和結構部件上的焊縫缺陷或裂縫。

袖珍旋入式探頭

• 旋入式設計，303不銹鋼外殼。

• 不同頻率的探頭顏色不同。

• 兼容于短接近、Accupath、高溫和表面波楔塊。

延遲塊探頭：

延遲塊探頭為單晶寬帶接觸式探頭，其特殊的結構設計是在探頭晶片前插有塑料或環氧材料制成的一個薄片。延遲塊改進了工件近表面缺陷的分辨率，可以測量更薄的材料厚度，并能提供更精確的厚度測量結果。延遲塊可根據工件的表面幾何形狀緊貼在工件上，而且還可用于高溫應用中。

可更換延遲塊探頭是一種單晶接觸式探頭，專門與可更換的延遲塊一起使用。

優勢

• 強阻尼探頭加上延遲塊可以提供好的近場分辨率。

• 較高的探頭頻率提高了分辨率。

• 直接接觸法可提高測量薄材料及發現細小缺陷的能力。

• 具有外形吻合性能，適用于曲面工件。

應用

• 精確測厚。

• 垂直聲束缺陷探測。

• 對接觸區域有限的工件進行檢測。可更換延遲塊探頭

• 每個探頭的配置都帶有一個標準延遲塊和一個固定環。

• 備有高溫延遲塊和干耦合延遲塊。

• 探頭及延遲塊端部之間需要耦合劑。