奧林巴斯 美國GE 超聲探頭選擇

接觸式探頭：

接觸式探頭是一個通?？缮煽v波且與被測樣件直接接觸的單晶探頭。所有接觸式探頭都裝有WC-5防磨面，不僅具有超級防磨效果，可以延長探頭壽命，還可以提供適合于大多數金屬的聲阻抗。

接觸式探頭是一種可與被檢工件直接接觸的單晶縱波探頭。

優勢

• WC-5防磨板增加了這種探頭的耐用性、抗裂性及防磨性。

• 所有這類探頭都可用于檢測面粗糙的工業部件。

• 具有與大多數金屬匹配的近似聲阻抗。

• 可用于檢測多種材料。

應用

• 垂直聲束缺陷探測和厚度測量。

• 分層缺陷的探測和定量。

• 材料特性評價和聲速測量。

• 檢測平板、坯材、棒材、鍛件、鑄件、擠壓成形件及多種其它金屬與非金屬部件。

• 可在50°C（122°F）的高溫下持續使用。

指尖接觸式

• 大于6毫米（0.25英寸）的探頭帶有凸節，便于抓取。

• 303不銹鋼外殼。

• 薄外形的特點便于檢測難于接觸到的表面。

• 根據客戶的要求，可免費提供用于方便抓取探頭的可拆裝塑料套筒。

6毫米（0.25英寸）套筒的工件編號為CAP4；3毫米

（0.125英寸）套筒的工件編號為CAP8。

• 標準配置為直角連接器，并適用于Microdot連接器。

雙晶探頭：

雙晶探頭包含兩個縱波晶片（一個用作發送器，另一個用作接收器），兩個晶片裝于同一個外殼中，但中間有一層隔音屏障。每個晶片都稍微向另一個晶片傾斜，目的是使從工件底面反彈的信號以V形聲程傳播。雙晶探頭在檢測嚴重腐蝕的工件時一般都能提供更穩定的讀數，而且還可用于高溫環境。

雙晶探頭在同一個外殼中裝有由隔音屏障分開的兩個晶片。一個晶片發射縱波，另一個晶片作為接收器接收聲波。要了解有關用于MG2和37系列測厚儀的探頭更詳細的情況請咨詢我們。

優勢

• 改進了近表面的分辨率。

• 避免了高溫應用所需的多延遲塊。

• 在粗糙或彎曲表面上的耦合效果好。

• 減少了粗晶?；蛞咨⑸洳牧现械闹苯臃聪蛏⑸湓胍?。

• 將低頻單晶探頭的穿透性能與高頻單晶探頭的近表面分辨率性能結合在一起。

• 可與曲面工件外形相吻合，緊貼在工件的表面。

應用

• 剩余壁厚測量。

• 腐蝕/侵蝕監控。

• 焊縫覆蓋和覆層的粘膠/脫膠檢測。

• 探測鑄件和鍛件中的多孔性、夾雜物、裂紋及分層等缺陷。

• 探測螺栓或其它圓柱形部件中的裂紋。

• 等于或小于5.0 MHz的探頭可承受的最高溫度為425°C（800°F）；7.5 MHz和10 MHz的探頭可承受的最高溫度為175°C（350°F）。表面溫度在90°C（200°F）到425°C（800°F）的情況下，建議使用的占空因數為最多10秒鐘接觸，然后進行最少1分鐘的空氣冷卻（不適用于袖珍雙晶）。

角度聲束探頭：

角度聲束探頭是一種與楔塊一起使用的單晶探頭，可以所選的角度將縱波或橫波

發射到工件中。角度聲束探頭可以對工件中垂直入射接觸式探頭的超聲聲程無法到達的區域進行檢測。角度聲束探頭一般用于焊縫檢測，因為如果使用標準接觸式探頭，焊冠會擋住聲波，使聲波無法到達希望檢測的焊縫區域，而且一般的缺陷對準操作會使角度聲束產生更強的反射信號。

角度聲束探頭是一種與楔塊一起使用的單晶探頭，可以向被測工件內部發射折射橫波或縱波。

優勢

• 三種材料制成的Accupath楔塊在提高了信噪比性能的同時，還表現出的防磨特性。

• 高溫楔塊可對熱材料進行在役檢測。

• 用戶可根據需要定制楔塊，以得到非標準的折射角度。

• 具有可更換型和整合型兩種結構設計。

• 具有外形吻合性能。

• 可提供在鋁制材料中獲得標準折射角度的楔塊及整合組件設計。

應用

• 缺陷探測與定量。

• 要了解衍射時差探頭，請參閱第35頁。

• 檢測管道、管件、鍛件、鑄件，機加工部件和結構部件上的焊縫缺陷或裂縫。

袖珍旋入式探頭

• 旋入式設計，303不銹鋼外殼。

• 不同頻率的探頭顏色不同。

• 兼容于短接近、Accupath、高溫和表面波楔塊。

延遲塊探頭：

延遲塊探頭為單晶寬帶接觸式探頭，其特殊的結構設計是在探頭晶片前插有塑料或環氧材料制成的一個薄片。延遲塊改進了工件近表面缺陷的分辨率，可以測量更薄的材料厚度，并能提供更精確的厚度測量結果。延遲塊可根據工件的表面幾何形狀緊貼在工件上，而且還可用于高溫應用中。

可更換延遲塊探頭是一種單晶接觸式探頭，專門與可更換的延遲塊一起使用。

優勢

• 強阻尼探頭加上延遲塊可以提供的近場分辨率。

• 較高的探頭頻率提高了分辨率。

• 直接接觸法可提高測量薄材料及發現細小缺陷的能力。

• 具有外形吻合性能，適用于曲面工件。

應用

• 精確測厚。

• 垂直聲束缺陷探測。

• 對接觸區域有限的工件進行檢測?？筛鼡Q延遲塊探頭

• 每個探頭的配置都帶有一個標準延遲塊和一個固定環。

• 備有高溫延遲塊和干耦合延遲塊。

• 探頭及延遲塊端部之間需要耦合劑。

保護面探頭：

保護面探頭為一種帶有螺紋外殼護套的單晶縱波探頭，可以安裝延遲塊、防磨帽或保護膜。這個特點極大地增強了探頭的靈活通用性，可使這種探頭用于范圍極為廣泛的應用中。保護面探頭還可用作直接接觸式探頭，檢測橡膠或塑料等低阻抗材料，以改進聲阻抗的匹配效果。

保護面探頭是一種單晶縱波接觸式探頭，可以裝配延遲塊、保護膜，或保護防磨

帽。

優勢

• 具有很強的靈活適用性，提供可拆裝延遲塊、保護防磨帽和保護膜。

• 單獨使用探頭時（沒有附加任何可選配件），其環氧防磨面可提供匹配于塑料、很多復合材料及其它低阻抗材料的適當的聲阻抗。

• 外殼帶有螺紋，方便了延遲塊、保護膜和防磨帽的安裝。

應用

• 垂直聲束缺陷探測

• 厚度測量

• 高溫檢測

• 平板、坯材、棒材及鍛件的檢測標準保護面•

• 探頭的舒適套筒的設計目的是便于操作者在帶手套時抓取和握持探頭。

• 標準的連接器類型為直角BNC（RB）；也可以提供平直BNC（SB）連接器。

• 延遲塊、保護膜及防磨帽需與探頭分開訂購。

水浸探頭：

水浸探頭為單晶縱波探頭，其防磨面具有與水匹配的阻抗。水浸探頭裝在密封外殼中，在與防水線纜一起使用時，可以*浸泡在水面以下。由于水浸探頭將水用作耦合劑和延遲塊，因此針對必須對工件施行持續耦合的掃查應用來說，這種探頭是一種理想的探頭。水浸探頭還有一個附加選項，即可以通過增加特定區域的聲強同時減少聲束焦點大小的方式將聲束聚焦。

水浸探頭是一種單晶縱波探頭，帶有一個在聲學特性上與水相配的1/4波長的層。這種探頭是為使超聲波在部分或全部浸在水中的被測工件中傳播而特別設計的。

優勢

• 水浸技術提供了一種均勻耦合的方法。

• 四分之一波長的匹配層加強了聲能的輸出。

• 防腐蝕的303不銹鋼外殼帶有鍍鉻黃銅制連接器。

• 射頻屏蔽功能可以提高關鍵性應用的信噪比特性。

• 除了筆刷式探頭的所有水浸探頭都可進行球面（點）聚焦或柱面（線）聚焦。

• 用戶定制的聚焦長度可根據用戶需求聚焦聲束，以提高檢測小反射體的靈敏度。

應用

• 自動掃查。

• 在線厚度測量。

• 高速探測管道、棒材、管件、平板及其它類似部件中的缺陷。

• 基于渡越時間和波幅的成像功能。

• 穿透檢測。

• 材料分析及聲速測量。

使用注意事項：

探頭浸于水中的時間不能超過8小時。探頭需要有16小時的干燥時間，以保證其使用壽命。

高頻探頭：

高頻探頭包括延遲塊探頭和聚焦水浸探頭。這些探頭的頻率范圍在20 MHz至225

MHz之間。高頻延遲塊探頭可以對厚度薄如0.010毫米（0.0004英寸）的材料進行厚度測量（取決于材料、探頭、表面條件、溫度和設置）。高頻聚焦水浸探頭是對硅制微型芯片等具有低衰減性的薄材料進行高分辨率成像和缺陷探測應用的理想探頭。

高頻探頭為單晶接觸式或水浸式探頭，可產生等于或高于20 MHz的頻率。

優勢

• 強阻尼寬帶設計提供了時間分辨率。

• 短波長可獲得*的缺陷分辨率能力。

• 直徑極小的聲束也可以聚焦。

• 頻率范圍為20 MHz到225 MHz。

應用

• 高分辨率缺陷探測，如：微孔隙檢測或微裂紋檢測。

• 表面斷裂或不平整性的C掃描成像。

• 可測量薄如0.010毫米（0.0004英寸）材料的厚度*。

• 可對陶瓷及高級工程材料進行檢測。

• 可對材料進行分析。

*厚度范圍取決于材料、探頭、表面條件、溫度及所選的的設置。高頻接觸式

• 使用直接接觸檢測法時，利用熔融石英延遲塊可進行缺陷評價、材料分析或厚度測量。

• 3種不同延遲塊的配置（BA、BB、BC）可形成多種延遲塊回波的組合。

• 其標準連接器類型為直角Microdot（RM）。

奧林巴斯 美國GE 超聲探頭選擇

數字化 | 渦流 | 膠片 | 檢測系統 | 超聲波 | X射線

特殊探頭能為您解決特殊檢測問題

如果您正有一個檢測難題需要解決，而標準探頭不能解決您的問題，那么您需要讀讀這本小冊子。這里介紹的是已經在許多超聲檢測領域獲得成功應用的特殊探頭，它們都已經通過檢測驗證，得到用戶的肯定, 并且可以根據客戶需要定制。其中必有一種能解決您的檢測問題。

由于我們特殊探頭的范圍非常廣，我們需要把同類型的探頭歸類在一起，從產品型號的編號上對探頭歸類（例如B2S-0A）。在這種情況下，為了選擇合適的探頭，您必須要對檢測任務有詳細的了解。

*解決方案是您能發給我們檢測物件的圖紙，上面標有探頭位置，缺陷位置，可能需要的頻率等。如果您在這本冊子里沒有找到與您的檢測問題相關的信息，也請把你的詳細需求發給我們，我們的探頭及應用專家將很樂意為您尋求最佳解決方案并為您提供合適的探頭。

特殊探頭能為您解決特殊檢測問題

① RB…,MRB…型

用于管道周向檢測的斜探頭，能夠同時從兩個周向檢測管道的。Lemo00接頭。

② IR…型

從管道內部檢測缺陷或測量厚度。

③ Z4R6X6/6X

多晶片探頭—4MHz，6個6x6mm晶片水浸探頭，帶2.5m探頭線。我們也能提供其他

頻率，晶片尺寸和晶片數量的探頭，相應的多晶片斜探頭可以用來檢測橫向缺陷。

④ IALF10…型

10MHz水浸探頭，園柱曲面，晶片寬30mm，由PVDF材料制成，帶1.5m

Lemo1接口探頭線?？商峁┢渌l率和晶片尺寸的探頭。

鐵軌檢測探頭

① SESZS…型

4MHz雙 晶 直 探 頭 ， 0.95m探 頭 線 ，Lemo接頭。

② SESZW…型

雙晶斜探頭，聲束同時向前，向后70º入射，2MHz，帶0.75m探頭線，Lemo1接頭。

③ WB45-01型

45º斜探頭，1MHz，頂端帶Lemo1接頭；套在夾具上組成前后串聯式檢測鐵軌。

注釋:

SESZS…型和SESZW…型都適用于鐵軌檢測系統自動檢測。用于坯餅檢測時請參

考第6頁，板坯檢測。關于其他的檢測問題，請聯系我們的專業技術人員。

用于軸承和輪軸

① B2S-0A…型

1MHz，2MHZ，4MHZ斜探頭，晶片直徑24mm，可更換保護膜。通過不同角度延

遲塊得到7º 14º 21º 28º 縱波斜探頭。頂部Lemo1接頭。尤其適用于檢測大軸承偏

心位置的體積型缺陷。

② AW…型

斜探頭，延遲塊可更換，2MHZ，晶片直徑24mm，Lemo1接頭；適用于橫波探

傷，探頭接觸面可與曲面耦合。

③ ASW…型

斜探頭，用橫波檢測輪軸中心孔，帶有2m探頭線，Lemo1插頭一個。

④ B…S, MB…S

直探頭，可提供各種頻率，晶片直徑為10mm和24mm，帶延遲塊。B…S型為

Lemo1接頭，MB…S探頭為Lemo00接頭。

⑤ Z2GB1, Z4NB5

帶延遲塊的縱波斜探頭，專為電梯軸承檢測設計，與Lemo 00插頭匹配。

注釋:

對于粗晶材料(由于晶粒散射而導致信噪比差)，請參照第15頁“粗晶結構材料

的檢測”。關于特大軸承檢測請參照第6頁“大型部件檢測”。

用于板坯

① SEZ4R10…型

雙晶4MHz探頭，聲束寬度約為50mm，由一個發射晶片和3個接收晶片組成，一根探頭線，帶有4個Lemo1接頭。

① 5Z6X27ND型

雙晶5MHZ探頭，聲束寬度約為25mm，帶Lemo1接頭的探頭線，尤其適合板材邊緣檢測。

② B…S-O型

提供各種頻率的直探頭，可更換保護膜，頂部Lemo1接頭。例如用于檢測平板輥筒。

③ SEZ4N30V，SEB4TV型

4MHz雙晶探頭，2.5m帶Lemo1接頭探頭線一根，即使在不斷升高的溫度下也適用于檢測平板輥筒。

④ UWB…

1 MHz，2 MHz或4 MHz入射角可調斜探頭，可以得到縱波和橫波，配有Lemo1接

口，用于產生蘭姆波。

用于大型部件

① NQP…型

用 于 直 接 接 觸 法 的 聚 焦 直 探 頭 ，2MHZ，晶片直徑34mm，50mm，或

75mm，深度越深處，焦點直徑越小，Lemo1接頭。尤其適用于各個方向的相

鄰缺陷。

② WQP…型

聚 焦 斜 探 頭 ， 晶 片 直 徑 3 4 m m ，50mm，或75mm，深度越深處，焦點直徑越小，Lemo1接頭。

③ SEB…G型

雙晶探頭，1 MHz 或 2 MHz， 大晶片，深度聚焦，Lemo 00接頭。

④ GRST…型

相控陣探頭，聲束焦點和角度可變，可用于自動檢測系統。

用于特殊形狀工件

例如飛機零件

① G…MN，G…KS型

多 種 頻 率 高 分 辨 率 的 直 探 頭 ， 可 更換延遲塊，Microdot接頭，G…KS為

Lemo00探頭。例如用于渦輪葉片冷卻壁 測 量 。 檢 測 塑 料 時 ， 延 遲 塊 可 根

據 實 際 使 用 環 境 設 計 ， 使 延 遲 塊 跟工件耦合，消除界面回波（0界面探頭）。

② H…MN…F型

高分辨率水浸探頭，多種頻率和晶片直徑可選，探頭帶有噴水耦合的噴嘴和防

水Lemo03接頭；例如用于渦輪葉片的厚度測量。

③ SMWB…

小晶片斜探頭，4 MHz，5MHz或6 MHz，晶片尺寸3mm x 4mm，Microdot接頭；例如檢測鉚釘孔的裂紋，也可用串聯式技術檢測。

例如：汽車部件

汽車零件的檢測幾乎是機械自動化的?；钊?，閥門，輪軸，齒輪檢測的相關信

息可在特別發布的SD263資料中找到。點焊檢測的信息參見第10頁。

用于混凝土，石頭，和木材

① B0.05N，B0.05U…型

直 探 頭 ， 5 0 K H Z ， 接 觸 面 3 0 m m 和55mm，信號衰減弱，Lemo1接頭；只

能用于穿透式檢測。我們可以提供更高頻率探頭。

② B0.05NN型

直探頭，50KHZ，探頭通過增強桿增強超聲信號，聲束傳播直徑大，Lemo1接

頭，只適用于穿透式軟質材料的檢測(如木材）。

③ K0.1G，K0.25G型

100KHZ和250KHZ直探頭，接觸面直徑45mm，阻尼性好，例如脈沖持續時間

短，防水Lemo1接頭；在脈沖回波模式可用于精確測量超聲傳播時間。

③ B…SL，G0.5G型

250 kHz，500 kHz，1 MHz直探頭，各種晶片尺寸可選，Lemo1接頭。

用于陶瓷（如絕緣材料）

① K…G，K…N 型

高分辨率直探頭，提供各種頻率，晶片直徑24mm和10mm，耐磨接觸面和Lemo00接頭。

② IB…

2MHZ或4MHZ，Lemo00接頭，窄外殼設計使得探頭能進入傘形絕緣體的縫隙中。

③ IW…B…

4MHZ 斜探頭，Lemo00接頭。入射角取決于缺陷位置和探頭耦合點。注釋：大部分標準探頭可以用于檢測大絕緣體，成形的陶瓷工件可使用高頻探頭（如AP-FM50.3.1）水浸法探傷。

用于簡單復合纖維塑料

① G…NS，G…KS型

各種頻率沖擊波直探頭，晶片尺寸可選，通過螺紋固定保護膜或延遲塊，Lemo00接頭。可以根據工件材料設計延遲塊，盡量消除界面波的影響（0界面探頭）。也適用于帶涂層工件的厚度測量。

② CA212，CA214

高分辨率直探頭，2MHZ，5MHZ，晶片尺寸10mm和24mm，Microdot接頭，通過螺紋固定保護膜或延遲塊，適用于帶涂層工件的厚度測量。

② G…N，G…KB

各種頻率沖擊波直探頭，晶片尺寸可選，Lemo00接頭，耐磨接觸面。

③ W70B2GT型

70º斜探頭，頻率為2MHZ，Lemo00接頭，適合檢測PE和PVC材料。65º斜探頭可用于檢測大厚度材料，WB70-1適合厚度更大的材料。

說明：

關 于 熱 塑 料 的 檢 測 請 參 見 特 別 版SD277資料，干耦合檢測相關信息見第14頁。

用于點焊檢測

① G20MN…型

高 分 辨 率 直 探 頭 ， P V D F 晶 片 ，20MHZ，Microdot接頭和水延遲線，由可更換彈性保護膜密封，用于點焊檢測；晶片尺寸取決于點焊焊核，可以用15MHZ探頭檢測更大厚度的點焊。更多詳情請看特別版SD272。

用于精密部件檢測

① G…MN型

各種頻率沖擊波探頭，晶片直徑可選，Microdot接頭，可更換延遲塊；尤其適用于點焊檢測。

② H…NA，H…KA，H…MA型

各種頻率，晶片尺寸可選的水浸沖擊波探頭，H…N，H…K帶2.5m探頭線，H…M帶1.5m探頭線，Lemo00接頭；尤其適合厚度測量。

③ H...KP...F, H...MP...F型

各種頻率，晶片尺寸，焦距可選的高分辨率水浸探頭，防水Lemo03接頭，并附有用于機械自動檢測的噴水耦合噴嘴。

膠接層檢測

例如在滑動軸承（白金屬鐵或鋁鐵），焊接頭（鐵與鐵或者銅與銅，銅表面包銀），搭接焊，離合器扭轉或制動襯板粘結檢測，關于更詳細的膠接檢測信息請查閱另外更詳細的資料SD288。然而，對于大部分檢測應用要求，標準 探 頭 都 能 滿 足 。 如 有 特 殊 應 用 需求，請聯系我們-我們將為您提供最合適的探頭。

腐蝕檢測

•  DA312

雙晶探頭檢測的最小厚度為0.6mm。

DA412

性能與DA312一樣，比DA312多對話功能，探頭里存儲了探頭參數。

DA311

相當于標準探頭DA301，只是探頭接口在頂部。

DA303

2MHz雙晶探頭，用于測量聲能吸收或者聲散射嚴重的材料。

DA0，8G

雙晶探頭，用于聲衰減或者聲散射非常嚴重的材料（例如，鑄件或者塑料）。

DA408

與DA0，8G相同，只是比DA0，8G多對話功能，探頭里存儲了探頭參數。

DA317類型

雙晶探頭用于檢測厚度比較小并且表面溫度最大為300℃的工件，該型號探頭的耦合穩定性非常好。

DA319

與DA312相同，只是該型號能用于表面溫度高達250℃的工件。

HT400

雙 晶 探 頭 用 于 檢 測 表 面 溫 度 高 達550℃的工件，在室溫下可測量的最小厚度為0.8mm。

DA305

雙晶探頭使用石英玻璃延遲塊，尤其適合于溫度非常高的工件檢測。

DA類型

一個非常小的筆型雙晶探頭，Microdot接 頭 ， 可 以 檢 測 接 觸 面 積 非 常 小 的工件。

CA212，CA214

高 分 辨 率 直 探 頭 ， 頻 率 為 2 M H z 或5MHz，通 過 螺 紋 固 定 延 遲 塊 或 保 護膜 ； 適 用 于 帶 A 掃 描 測 厚 儀 測 量 厚度值。

用于測試材料特性

例如利用縱波橫波聲速計算彈性模量。

G…N，G…KB，G…K型

各種頻率，晶片尺寸可選的沖擊波直探頭，耐磨損接觸面，Lemo00插頭。

G…K型為

Microdot接頭。適合測量縱波聲速。

SM-P…型

各種頻率，晶片尺寸可選的高分辨率直探頭，Microdot接頭，有一個磁環可將探頭固定在磁性材料上。尤其適合測量螺栓應力。

K…NY，K…KY型

高分辨率橫波直探頭。多種頻率和晶片尺寸可選。Microdot接頭。適合測量橫波聲速，適用于精密測厚儀。

注釋：

如有需要，橫波和縱波晶片可以同時封裝在一個外殼里。例 如 可 以 用 來 確 定 硬 化 層 的 厚 度 和純度。

Z20m型

20MHZ，窄脈沖水浸探頭，晶片尺寸5mm，1.5m探頭線，Lemo1接頭。適合用超聲背散射測量硬化層深度。

注釋：

硬化層和未硬化層之間的結構突變是測量的先決條件。參見SD284。

Z10M型

10MHZ窄脈沖水浸探頭，晶片尺寸5mm，1.5m探頭線，Lemo1接頭。適用于純度測量。

串聯式焊縫檢測

•  W45SEK2/…型

45º斜探頭，雙晶片，兩晶片的聲軸交點在焊縫中心；適用于對接焊。

② D45N2…型

各種角度，頻率，晶片尺寸的斜探頭，適用于串聯式厚焊縫檢測?？捎糜跈C械自動檢測。

高溫高壓或輻射環境下檢測

•  W…B2GV，W…B4GV

45º，60º，70º斜探頭，頻率2MHZ，或4MHZ。Lemo00接頭。適合高溫超聲檢測。

② SEB4KV

4MHZ雙晶探頭，Lemo00接頭，與A掃描顯示的儀器連接可在高溫下用于厚度測量。

LWG854型

防輻射探頭：如檢測滲水燃油桿。

③ H5KV型

5MHZ水浸探頭，防水Lemo03接頭，可在125º和60bar下工作。尤其適合檢測輸油管道連續厚度測量和缺陷檢測，用特殊的表面保護層可用于腐蝕性材料檢測。

④ K5KVB4型

5MHZ直探頭，耐熱延遲塊，可用于高溫高壓下塑料部件的厚度測量。使用特殊延遲塊可用于腐蝕性材料檢測。

注釋：

高溫測厚探頭詳細資料見第11頁。

用于結構復雜，空間接觸面積受限制的工件

SMWB型

小晶片斜探頭，頻率4MHZ，5MHZ，6MHZ。晶片尺寸3mmx4mm，入射角可選，Microdot接頭。

② K…M…型

各頻率小晶片直探頭，（外徑2.5mm，高度3mm），Microdot接頭或固定細探頭線?？商峁┙佑|面直徑為2mm的錐形延遲塊。

③ WSY型

90º爬波探頭，Lemo00接頭，用來檢測難以接近的位置。

注釋：

爬波在工件表面下沿直線傳播。它并不像表面波一樣沿著表面傳播。所以有些用其他超聲波無法檢測到的缺陷可以用爬波檢測到。這種探頭必須很好的與材料表面貼合在一起才能產生爬波。

不用耦合劑（干耦合）檢測

如果在檢測工件表面不能使用液體耦合劑，某些情況下可以使用塑料來代替。

用塑料箔或塑料冒安裝在探頭前面保證探頭和檢測工件耦合。滾筒探頭，

B1KS，B1KE型帶有特殊接觸面可以在沒有耦合的情況下連續檢測。在這種情

況下，保證探頭和被檢物件表面的清潔是十分重要的，因為工件表面的臟物會

使探頭不能與工件耦合。這種技術尤其適合于塑料檢測。詳情請參見SD261。

用于粗晶材料的檢測（鑄件和奧氏體材料）

很多用于檢測粗晶材料的探頭都得到成功應用，現在已成為標準探頭。

包括：

•  K…S，K…SM

各頻率高分辨率直探頭，晶片尺寸34或28mm，Lemo1接頭，通過螺紋固定保護膜，延遲線和斜楔。

② WRY…，WSY…

45º，60º，70º縱波斜探頭，高分辨率，頻率2MHZ。WSY…頻率4MHZ，Lemo00接頭。

③ VRY…，VSY…

45º，60º，70º，2MHZ縱波雙晶斜探頭。VSY… 4MHZ，Lemo00接頭。如果您需要與上述標準探頭頻率、入射角、接頭型號不同的探頭，請聯系我們，我們將給您提供最佳探頭，使其能滿足您的應用需求。

根據標準檢測

很多國家的標準都規定了探頭的技術參數，常規檢測的檢測方法和規范。這些

標準的數量和范圍都非常大，在此對于具體的探頭參數不一一列舉。

如果您需要符合特定標準的探頭，請聯系我們，如果您急需探頭的話，我

們建議您給我們提供基于標準的探頭技術資料。