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利特斯光譜儀CCD全譜直讀光譜分析儀

簡要描述:利特斯光譜儀CCD全譜直讀光譜分析儀 SZ-WL15A 是快速和可靠金屬分析 體積小巧,且具有超高的性價比。適用于所有金屬及其合金,包括:鑄鐵、鐵、鋼鋁、銅、鎂、鎳、鉛、錫、鈷、鈦 等。

  • 產(chǎn)品型號:SZ-WL15A
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時間:2022-12-01
  • 訪  問  量:1621

詳細(xì)介紹

品牌其他品牌波長范圍130~1100nmnm
儀器種類臺式激發(fā)方式電弧
價格區(qū)間20萬-25萬檢測器類雙檢測器(PMT+CCD)
應(yīng)用領(lǐng)域冶金,航天,電氣,綜合檢測器CCD檢測器,(紫外區(qū))采用高性能濱松背照式CCD檢測器

利特斯光譜儀CCD全譜直讀光譜分析儀


SZ-WL15A 快速和可靠金屬分析  體積小巧,且具有超高的性價比。


我們的光譜儀旨在完成快速而可靠的樣品檢測。新一代leetes先進(jìn)的光譜分析技術(shù),30年光譜儀研發(fā)制造經(jīng)驗、技術(shù)創(chuàng)新和專業(yè)的售后服務(wù),為每一臺光譜儀用戶提供可靠的材料分析方案。


WL15A內(nèi)容圖.jpg


WL15A 提供快速、穩(wěn)定和精確的分析以實現(xiàn)樣品檢測要求。 它是一臺功能強(qiáng)大且可靠的光譜儀,光學(xué)系統(tǒng)采用CCD檢測器,在部分領(lǐng)域可以媲美經(jīng)典光電倍增管式的光譜儀。

分析的材料類型 全面的分析程序可供選擇,適用于所有金屬及其合金,

包括:鑄鐵、鐵、鋼鋁、銅、鎂、鎳、鉛、錫、鈷、鈦


光學(xué)系統(tǒng) :

全譜平場光學(xué)系統(tǒng),波長可選范圍:130-1100nm


檢測器 :

(紫外區(qū))采用高性能濱松(HAMAMATSU)背照式CCD檢測器

檢測器范圍.png


開放式激發(fā)臺,適用于分析不同幾何形狀的大樣品,采用雙氣路氬氣沖洗電極模式大大節(jié)約氬氣,熱交換設(shè)計,無需水冷,易于清理維護(hù)。


火花激發(fā)系統(tǒng) :

激發(fā)誤差 是直讀光譜分析中主要誤差,對火花激發(fā)系統(tǒng)中光源的穩(wěn)定性要求異常嚴(yán)格。WL15A采用全頻數(shù)字雙脈沖激發(fā)光源,可變頻(100-1000Hz)激發(fā)技術(shù)。


具有以下特點:

激發(fā)電路中無電阻部件,不發(fā)熱,提高熱穩(wěn)定性低壓火花放電,增加系統(tǒng)可靠性減少維護(hù)保養(yǎng),僅需清洗激發(fā)電極

1.分析準(zhǔn)確度高,時間快

2.體積小、重量輕

3.高度集成化、高可靠性

4.數(shù)據(jù)分析穩(wěn)定、快速

5.全譜檢測,通道不受限

6.操作簡單

7.分析模式


核心原理圖:

核心原理圖.png


CCD的優(yōu)勢 :

windows系統(tǒng)下全中文操作界面,有多種語言模式一鍵激發(fā)

即可獲取數(shù)據(jù)內(nèi)置自我診斷系統(tǒng)

自動處理結(jié)果,10-30S 完成樣品分析

預(yù)裝金屬牌號,能快速鑒定。可自由選擇分析模式、

配置分析曲線,也可根據(jù)應(yīng)用需求優(yōu)化參數(shù)。

1. 連接激發(fā)光源

2. 狹縫

3. 濾鏡

4. 準(zhǔn)直鏡

5. 光柵

6. 聚焦鏡

7. 帶濾光片的檢測器

8. 背照式CCD檢測器


應(yīng)用領(lǐng)域

冶金、鑄造、機(jī)械加工、爐前化驗、科研、商檢、汽車、石化、造船、電力、航空航天、核電、兵器  


檢測范圍

鐵基、銅基、鋁基、鎳基、鈷基、鎂基、鈦基、鋅基、鉛基、錫基、銀基

WL15A內(nèi)容圖2.jpg



利特斯光譜儀CCD全譜直讀光譜分析儀

SZ-WL15A 直讀光譜儀技術(shù)方案儀器技術(shù)參數(shù)表格

項目

參數(shù)描述

檢測應(yīng)用

金屬基體合金的成分測量

光學(xué)系統(tǒng)

全譜光學(xué)系統(tǒng)

波長范圍

130~1100nm

光源類型

全頻數(shù)字雙脈沖激發(fā)光源,可變頻(100-1000Hz)激發(fā)技術(shù)

檢測器

CCD檢測器,(紫外區(qū))采用高性能濱松(HAMAMATSU)背照式CCD檢測器

電極

采用雙氣路氬氣沖洗電極模式

數(shù)據(jù)采集讀出系統(tǒng)

高速16位ADC模數(shù)轉(zhuǎn)換,DSP數(shù)字信號控制器,工業(yè)USB數(shù)據(jù)采集(100KHz/s),單火花脈沖數(shù)據(jù)采集,可用于酸溶鋁和酸不溶鋁檢測。

分析軟件

全中文windows系統(tǒng)下運行分析軟件,設(shè)置分析參數(shù),激發(fā)、沖洗、予燃爆光時間選擇,自動完成

工作電源

220±20)V AC,(50±1)Hz,保護(hù)性接地的單相電源

工作溫度

(10~30)℃

存儲溫度

(0~45)℃

工作濕度

20%~80%

氬氣純度要求

99.999%

氬氣進(jìn)口壓力

0.5Mpa

氬氣流量

激發(fā)流量約(3-6)L/min,維持流量約(0-0.5)L/min

激發(fā)最大功率

500VA

激發(fā)臺孔徑

12mm

樣品臺

火花臺尺寸為120x120mm ,放電室特殊設(shè)計,雙脈沖火花放電,十分便于激發(fā)和省氬氣,激發(fā)電極為鎢電極或銀電極。

尺寸

外形尺寸:684×584×350mm

重量

45kg

SZ-WL15A 標(biāo)配供貨范圍

  內(nèi)容描述

數(shù)量

SZ-WL15A 全譜直讀光譜儀主機(jī)

1

分析基體

1個

工作曲線

2套

數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)(光譜儀內(nèi)置)

1

分析及校準(zhǔn)軟件(U盤)

1

計算機(jī)(聯(lián)想)

1

打印機(jī)(HP)

1

高低標(biāo)

2個

減壓閥

1套

電極刷

1個

過濾器

1個

用戶手冊(儀器使用說明書)

1

WL15A內(nèi)容圖1.jpg



CCD 原理及發(fā)展應(yīng)用

CCD 是指電荷耦合器件,是一種用電荷量表示信號大小,用耦合方式傳輸信號的探測元件,具有自掃描、感受波譜范圍寬、畸變小、體積小、重量輕、系統(tǒng)噪聲低、功耗小、壽命長、可靠性高等—系列優(yōu)點,并可做成集成度非常高的組合件。

電荷耦合器件(CCD)是20世紀(jì)70年代初發(fā)展起來的一種新型半導(dǎo)體器件。

CCD是于1969年由美國貝爾實驗室(Bell Labs)的維拉·波義耳(Willard S. Boyle)和喬治·史密斯(GeorgeE. Smith)所發(fā)明的。

當(dāng)時貝爾實驗室正在發(fā)展影像電話和半導(dǎo)體氣泡式內(nèi)存。將這兩種新技術(shù)結(jié)合起來后,波義耳和史密斯得出一種裝置,他們命名為“電荷‘氣泡’元件"(Charge "Bubble" Devices)。

這種裝置的特性就是它能沿著一片半導(dǎo)體的表面?zhèn)鬟f電荷,便嘗試用來做為記憶裝置,當(dāng)時只能從暫存器用“注入"電荷的方式輸入記憶。但隨即發(fā)現(xiàn)光電效應(yīng)能使此種元件表面產(chǎn)生電荷,而組成數(shù)位影像。 

到了70年代,貝爾實驗室的研究員已經(jīng)能用簡單的線性裝置捕捉影像,CCD就此誕生。有幾家公司接續(xù)此一發(fā)明,著手進(jìn)行進(jìn)一步的研究,包括仙童半導(dǎo)體(Fairchild Semiconductor)、美國無線電公司(RCA)和德州儀器(Texas Instruments)。

其中快捷半導(dǎo)體的產(chǎn)品
上市,于1974年發(fā)表500單元的線性裝置和100x100像素的平面裝置。

CCD圖像傳感器可直接將光學(xué)信號轉(zhuǎn)換為模擬電流信號,電流信號經(jīng)過放大和模數(shù)轉(zhuǎn)換,實現(xiàn)圖像的獲取、存儲、傳輸、處理和復(fù)現(xiàn)。



CCD 優(yōu)勢及特點:

1.體積小重量輕;

2.功耗小,工作電壓低,抗沖擊與震動,性能穩(wěn)定,壽命長;

3.靈敏度高,噪聲低,動態(tài)范圍大;

4.響應(yīng)速度快,有自掃描功能,圖像畸變小,無殘像;

5.應(yīng)用超大規(guī)模集成電路工藝技術(shù)生產(chǎn),像素集成度高,尺寸精確,商品化生產(chǎn)成本低。


因此,許多采用光學(xué)方法測量外徑的儀器,把CCD器件作為光電接收器。


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