美國BH（原美國GE）貝克休斯水浸探頭

用于浸入式方法的傳感器

水浸探頭的設計目的是與水楔配合使用，或者在被檢工件部分或全部浸入水中時，在水浸箱中進行檢測。這類探頭屬縱波探頭，但經過設置后，使用Rexolite楔塊可以進行折射橫波檢測。

優勢特性

其聲阻抗與水匹配

可裝配到水楔上，以更方便地耦合到多種表面，且其水中聲程可調（當被檢工件不能浸沒到水箱中時）。

線性掃查可以覆蓋30毫米到90毫米的距離，且檢測的準確性非常高。

耐腐蝕不銹鋼外殼

可保證在水下1米深的位置具有防水性

典型應用

對（鋼、鋁或其他材料制成的）薄板或管子進行檢測

對復合材料進行檢測，探測出分層和脫粘等缺陷

在線厚度測量

自動掃查

水浸探頭浸入式傳感器

•通過水耦合達到最佳耦合效果

•用于結構較規則工件

•常用于自動檢測系統

•耦合效果穩定一致，檢測結果可重復性好

•可用于掃查架，噴水式檢測

•可以通過聚焦提高靈敏度和分辨力

聚焦水浸探頭入式傳感器

•點聚焦模式

•線聚焦模式

聚焦優勢

提高對小缺陷的敏感檢測靈敏度

美國BH（原美國GE）貝克休斯水浸探頭

傳感器探頭選擇標準 -北美標準

根據美國標準制造的探頭，Baker Hughes Inspection Technologies 提供三種系列探頭： Alpha、Benchmark， 和 Gamma 系列。 所有探頭均根據 ASTM E-1065標準進行測試，測試報告提供波形和頻譜等相關信息。

•建議用于對檢測分辨率有較高要求的檢測應用。

•適用于對分辨力要求高的厚度測量和近表面缺陷檢測等應用。

•脈沖非常短，達到目前探頭技術極限。

•靈敏度通常低于 Gamma 和 Benchmark 系列探頭。

•帶寬 - 典型的 6 dB 帶寬范圍為 50％ 至 100％。

•典型的 Alpha 波形（右圖）通常只有一到兩個完整的回波周期

Benchmark 系列探頭功能

•晶片使用特殊BENCHMARK COMPOSITE 壓電復合材料。

•對高衰減材料的穿透性遠優于傳統探頭。

•對粗晶粒金屬材料、碳纖維增強復合材料檢測具有高信噪比。

•回波脈沖短 - 分辨率通常優于 Gamma 系列。

•靈敏度通常高于 Gamma 和 Alpha 系列探頭。

•高帶寬 - 典型的 6 dB 帶寬范圍為 60％ 至 120％。

•晶片低聲阻抗提高了斜探頭、延遲探頭和水浸探頭的性能，與塑料和水的聲阻抗匹配效果好。

Gamma 系列功能

•常用探頭，適用于大多數日常檢測應用要求。

•中脈沖、中阻尼 – 靈敏度和分辨率的優化組合。

•電子匹配性能確保較高的檢測靈敏度，牲犧一定分辨力

•中帶寬 - 典型的 6 dB 帶寬范圍為 30％ 至 50％。

•典型的 Gamma 波形會顯示三到四個完整回波周期，取決于探頭頻率、探頭直徑和其他參數。

接觸式直探頭

應用

•結構規則簡單的大型工件檢測

•鍛件、坯料檢測

•板材、棒材、方型材

•容器、機器零部、外殼

•在高溫下用延遲塊檢測

功能特和優勢

歐式型號具有可更換的軟保護膜

– 改善在不平坦或彎曲表面上的耦合

– 延長探頭使用壽命。

– 適用于 DGS 缺陷定量方法

– 提供高溫延遲塊

– Lemo 1 (B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 連接器，標準探頭連接器安裝在側面，頂部接口可選

美式型號具有可更換的軟保護膜

– 保護膜可改善不平坦或彎曲表面上的耦合。

– 定期更換軟保護膜可無限期延長探頭的使用壽命。

– 高溫延遲塊可在最高 400°F (200°C) 的表面上進行檢測。

– BNC 連接器，側面或頂部安裝

用于接觸式檢測方法的探頭傳感器

直探頭-單晶

•工件形狀規則，檢測面相對光滑

•適用于平面或帶曲率接觸面

•缺陷或底面與接觸面平行

•用于檢測厚度較大的工件

•延遲塊探頭能提高近表面分辨力

•需要耦合劑

•日常檢測常用探頭

直探頭直通波束 - 雙晶片 (TR)

•通過隔聲層使發射與接收晶片獨立分開

•缺陷或底面與接觸面平行

•用于檢測厚度較小工件

•需要耦合劑

•日常檢測常用探頭

坡度波束斜探頭

•斜探頭晶片與楔塊一體或可拆卸

•橫波或縱波以特定角度入射

•常用的斜探頭為橫波探頭

•檢測與入射聲束垂直的缺陷

•有單晶與雙晶斜探頭

•需要耦合劑

•有時用于掃查器或自動掃查