美國GE探頭線

常用探頭線接口類型圖例

美國GE探頭線

超常用探頭線

注：線長都可按要求定制

特殊探頭線

DA590探頭專用——鎧裝高溫探頭線C123

DA590探頭專用——無鎧裝高溫探頭線C120

點(diǎn)焊探頭專用耐磨探頭線：LEMO 00-LEMO00接口

MPKL2XS長度2m / MPKL 3XS長度3m / MPKL 4XS長度4m

PKLL2 超聲波探傷儀探頭線 ，適用于B2S，B4S等單晶直探頭

USM86接口雙LEMO-00，USM GO接口2xLemo 1

1. 鋼結(jié)構(gòu)行業(yè)推薦配置:

   直探頭:MB2S，斜探頭:SWB45-2、SWB60-2、SWB70-2,電纜線:MPKLL2

2. 
   

3. 航空航天(輔材)行業(yè)推薦配置:

   直探頭:Alpha113-114-660(5MHZφ13mm),Alpha113-126-660(10MHZ6mm)電纜線:CL331

4. 
   

5. 特種設(shè)備行業(yè)推薦配置:

   直探頭:MB4S，斜探頭:MWB45-4,MWB60-4,MWB70-4,電纜線:MPKLL2

6. 
   

7. 風(fēng)電設(shè)備(法蘭、齒輪)行業(yè)推薦配置:

   直探頭:B4S，SEB4斜探頭:WB45-4,WB60-4電纜線:MPKL2,KBA533

8. 
   

9. 材料檢測(鑄鍛件)行業(yè)推薦配置:

   直探頭:B2S,SEB2電纜線:MPKL2,KBA533

10. 直探頭:DA501,電纜線:KBA533

11. 
    

12. 管道行業(yè)推薦配置:

    直探頭:SEB4，斜探頭:MWB60-4,MWB70-4電纜線:KBA533,MPKLL

接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測件有規(guī)則外形和相對光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場分辨率
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
直探頭--雙晶
·接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·近表面分辨率好，用于較薄部件
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
斜探頭
·晶片安裝在內(nèi)置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探頭通過模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測，如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·有時(shí)用于機(jī)械化或自動化檢測

水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好，效率高
·適于具有不規(guī)則表面的被檢測件
·通常用于機(jī)械化或者自動化檢測
·耦合一致性好，檢測重復(fù)性高
·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進(jìn)效果

應(yīng)用
•結(jié)構(gòu)規(guī)則簡單的大型工件檢測
•鍛件、坯料檢測
•板材、棒材、方型材
•容器、機(jī)器零部、外殼
•在高溫下用延遲塊檢測

功能特和優(yōu)勢
•歐式型號具有可更換的軟保護(hù)膜：
– 改善在不平坦或彎曲表面上的耦合
– 延長探頭使用壽命。
– 適用于 DGS 缺陷定量方法
– 提供高溫延遲塊
– Lemo 1 (B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 連接器，標(biāo)準(zhǔn)探頭連接器安裝在側(cè)面，頂部接口可選
•美式型號具有可更換的軟保護(hù)膜：
– 保護(hù)膜可改善不平坦或彎曲表面上的耦合。
– 定期更換軟保護(hù)膜可無限期延長探頭的使用壽命。
– 高溫延遲塊可在*高 400°F (200°C) 的表面上進(jìn)行檢測。
– BNC 連接器，側(cè)面或頂部安裝


主要特性
•單晶探頭用于超聲脈沖的發(fā)射和接收
•通過水延遲通道進(jìn)行縱波或橫波的垂直或斜向掃描（非接觸測試）
•不漏水的版本設(shè)計(jì)，或者帶有固定的連接電纜，或者帶有水密封的連接插座（除Microdot外）
•牢固的金屬盒
•用通常采用的線聚焦和點(diǎn)聚焦方式增加了缺陷識別的能力
•使用具有較高頻率的聚合物探頭，從而對非常小的非均勻性具有非常高的探測能力。